TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量 標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜 儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。。

以下特性和優(yōu)勢是基于由 3082 型靜電分級器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強儀 、3772型凝聚粒子計數(shù)器 等組件共同組成的SMPS掃描電遷移粒徑譜儀。

特點優(yōu)勢

高分辨率粒徑分布

+ 64通道/10倍粒徑

+ 1到50nm之間多于109通道

給您最大靈活度的組件設計

1nm到50nm的極寬粒徑范圍

+和3081A型長差分電遷移分析儀配套使用能夠測量1nm到1um

三個數(shù)量級的粒徑

最優(yōu)化設計，將散逸損失降到最低，系統(tǒng)高度整合

通過氣溶膠儀器管理（AIM）軟件進行系統(tǒng)操作

離散顆粒物測量：多模態(tài)樣品測量效果極好

應用范圍

基礎氣溶膠研究

顆粒成核及生長研究

大氣及氣候研究

燃燒及發(fā)動機排放研究

過濾器及空氣凈化器測試

吸入或暴露艙研究

健康影響因素研究